전자기간섭방출(emi)테스트

21세기에들어서서전자장치에서발생하는전자기교란으로인해동일한환경내의다른장치에간섭또는오작동이발생하는문제가증가하고있습니다。

EMI테스트는모든방출파형이해당유형의장치에대해정의된한도미만임을확인합니다。이테스트는다른장치에유해한간섭을일으키지않거나작동중다른방출로인해제대로작동하지않는문제를일으키지않는다는합리적인보증을제공합니다。

beplay 电脑登录Nemko는다양한유형의측정및장치에대한EMC방출테스트,컨설팅및인증서비스를제공합니다。이테스트범위에는다음이포함됩니다。

• 전도방출테스트:amn，전압프로브，전류프로브，통신포트및불연속방법
• 삽입손실(插入损耗)
• 방사전자기장(Van Veen Loop)
• 교란전력(扰动功率)
• 전도공통단자전압(导通共模端电压)
• 복사방출(辐射辐射)
• 고조파전류방출(谐波电流发射)
• 플리커및전압변동(闪烁和电压波动)